Konvansiyonel teknik ve bilgisayar ile yapılmış sefalometrik analizlerin güvenilirlik açısından karşılaştırılması
Özet
Bu çalışmadaki amaç, farklı araştırmacıların analiz metodlarından parametreler alarak oluşturduğumuz analiz sisteminde, farklı bilgisayar programları (Jiffy Orthodontic Evaluation (JOE), Vistadent 2.1 AT) ile elde edilen ölçümleri, konvansiyonel çizim tekniği ile karşılaştırmaktır. Çalışma sonucunda hem teknikler arasında, hem de programların birbirlerine karşı olan güvenilirliğini saptamak hedeflenmiştir. Çalışmamızda, Başkent Üniversitesi Ortodonti Anabilim Dalı hasta arşivinden seçilmiş toplam yüz yirmi beş adet bireyin, tedavi başı lateral sefalometrik filmleri kullanılmıştır. Tüm sefalometrik kayıtlar aynı pantomogram ile (PM 2002 CC Proline Planmeca Oy SF-00810 Helsinki Finland) alınmıştır. Tüm sefalometrik analizler aynı araştırmacı tarafından yapılmıştır.
Tekniklerden biri konvansiyonel (elle çizim), diğer ikisi ise farklı bilgisayar yazılımlarından (JOE ve Vistadent 2.1 AT) oluşmaktadır. Çalışmada toplam yirmiyedi adet açısal ve boyutsal parametre kullanılmıştır.
Sonuçlara göre çalışmamızda yirmisekiz adet parametreden yirmibir adet parametrede istatistiksel olarak anlamlı fark bulunmamıştır. Bu parametreler: BaNA açısı, SNA açısı, Condylion-A mesafesi, Condylion-Gnathion mesafesi, SNB açısı, Maksillo-mandibular fark, WITT’S ölçümü, ANB açısı, GoGn. SN açısı, Ar.GoGn açısı, Palatal düzlem-mandibular düzlem açısı, Üst keser-NA açısı, Alt keser-NB mesafesi, İnterinsizal açı, Overbite ölçümü, Overjet ölçümü, IMPA açısı, Oklüzal düzlem eğimi, Alt dudak-E düzlemi, Üst dudak uzunluğu, A - Nasion perpendiküler mesafesidir.
Nasolabial açı, ANS – Menton mesafesi, Antero-posterior yüz oranı, Alt keser-NB açısı, Nasion perpendikülar - Pg mesafesi, Gonion - Menton mesafesi, Üst keser-NA mesafesi üç grupta da istatistiksel olarak anlamlı farklılık gösteren parametrelerdir.
JOE yazılımı, Vistadent 2.1 AT yazılımına oranla, konvansiyonel tekniğe daha yakın sonuçlar vermiştir. JOE grubunda Nasolabial Açı ölçümünün tekrarlama katsayısı, en düşük olan parametredir.